| Basisklasse(n): | zerstörungsfreies Prüfverfahren |
| Unterklasse(n): | digitale Mikroskopie Elektronenmikroskopie (EM) Lichtmikroskopie Rasterkraftmikroskopie (AFM) Ultraschallmikroskopie |
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| Unterklasse(n): | digitale Mikroskopie Elektronenmikroskopie (EM) Lichtmikroskopie Rasterkraftmikroskopie (AFM) Ultraschallmikroskopie |
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